Метод комбінаційного розсіювання світла в термометрії поверхні мікрооб’єктів

2012;
: pp. 28-31
1
Lviv Politecnic National University
2
Lviv Polytechnic National University, Ukraine
3
Lviv Politecnic National University

Errors of the temperature transducer constructed on the basis of the Raman effect are estimated applying the analysis for metrological characteristic divergence. The object of study was chosen microcontroller.

1. Сегеда О. Вимірювання температури з використанням явища комбінаційного розсіювання світла / Яцишин С., Сегеда О. // Технічні вісті. – 2008. – № 1– 2. – С.121–122.

2. Vaucher S., Catala-Civera J.M., Sarua A., et al., Phase selectivity of microwave heating evidenced by Raman spectroscopy // J. Appl. Phys. 2006. V.99, No.11.

3. Сегеда О. Лазерна термометрія у мікротехнологіях / Стадник Б., Яцишин С., Сегеда О. Черкаси-Гурзуф 2008 С.129-132.

4.http://www.solartii. com/rus/spectral_instruments/ms350.htm (дійсна на 28.02.2012) 5. Луцик Я.Т., Буняк Л.К., Рудавський Ю.К., Стадник Б.І. Енциклопедія термометрії. – Львів, 2003.
– С.280–285.

6. Павловский И.Ю. Спектрометр комбинационного рассеяния света для диагностики материалов in situ в газоразрядной плазме / И.Ю. Павловский, А.Н. Образцов // ПТЭ. – 1998. – № 2. – С.144–148.

7. Сегеда О. Метод комбінаційного розсіювання світла у термометруванні поверхні / О. Сегеда, Б. Стадник, С. Яцишин // Вимірювальна техніка та метрологіяю – 2010. – № 71. – С.63–66.