Математичне моделювання інформації, отриманої при взаємодії інфрачервоного та оптичного випромінювання з порошковими матеріалами

2010;
: cc. 70 - 77
Authors: 

O. Чабан, В. Юзевич*

Державний науково-дослiдний iнститут метрологiї вимiрювальних i управляючих систем (ДНДI «Система»),
* Фізико-механічний інститут ім. Г. Карпенка НАН України

Запропоновано методику математичного моделювання інформації, отриманої при розсіюванні інфрачервоного та оптичного випромінювання поверхнею порошкового матеріалу, сформованого з паралельних циліндричних частинок.

The method of mathematical design of information, got at dispersion of infra-red and optical radiation the surface of powder-like material, formed from parallel cylindrical particles is offered.

  1. Сопрунюк П.М., Юзевич В.М., Чабан О. П. Оцінювання якості сигналу, відбитого від системи частинок порошкового матеріалу // Фізичні методи та засоби контролю середовищ, матеріалів та виробів. Неруйнівний контроль та технічна діагностика матеріалів і конструкцій: Зб. наук. праць. — Львів: ФМІ НАН України, 2007. — Вип. 12. — С. 255–261.
  2. Сопрунюк П.М., Юзевич В.М., Івасів І.Б. Оцінення інтенсивності оптичного випромінювання, відбитого від системи циліндричних частинок // Відбір і обробка інформації. — 2007. — Вип. № 26 (102). — C. 58–64.
  3. Сопрунюк П.М., Юзевич В.М., Підгірняк Я.Є. Методи оцінки зміни оптичних констант на поверхневих неоднорідностях частинок порошкових матеріалів // Відбір і обробка інформації. — 2005. — Вип. № 99. — C. 5–10.
  4. Топорец А. С. Оптика шереховатой поверхности. — Л.: Машиностроение, Ленингр. отд-е, 1988. — 191 с.
  5. Борен К., Хафмен Д. Поглощение и рассеяние света малыми частицами: Пер. с англ. — М.: Мир, 1986. — 660 с. 
  6. Юзевич В., Чабан О. Показники якості інформації базового зразка для порошкових матеріалів // Метрологія та прилади. — 2009. —№ 1. — С. 22–26.
  7. Сопрунюк П.М., Івасів І.Б., Семенюк О. М. Рефлектометричний сенсор для оцінки дисперсного складу порошків // Вимірювальна та обчислювальна техніка в технологічних процесах: Збірник наукових праць. — Хмельницький: 2002. — С. 15–18.
  8. Сопрунюк П.М., Івасів І.Б., Семенюк О.М., Червінка Л.Є., Червінка О. О. Оптимізація параметрів півциліндричного рефлектометричного оптичного сенсора аналізатора дисперсного складу порошкових матеріалів // Вимірювальна та обчислювальна техніка в технологічних процесах. — 2004. — № 2. — С. 26–30.
  9. Грабовецький Б. Є. Економічне прогнозування та планування: Навч. посібник. — К.: Центр навчальної літератури, 2003. — 188 с. 
  10. Сопрунюк П., Юзевич В. Моделювання поверхневих ефектів при взаємодії оптичного випромінювання з порошковими матеріалами // Комп’ютерна інженерія та інформаційні технології: Вісник Нац. ун-ту «Львівська політехніка». — 2006. — № 565.— С. 117–125.
  11. Church E. L. The measurement of surface texture and topography by differential light scattering // Wear. — 1978. — V. 57. — P. 93–106.
  12. Балакший В.И., Парыгин В.Н., Чирков Л. Е. Физические основы акустооптики, — М.: Радио и связь, 1985. — 280 с. 
  13. А. С. № 1458703 (СССР). Способ контроля шереховатости поверхности изделия / В. Е. Загребельный, В. И. Телешевский. Опубл. в Б. И. № 6. — 15.02.89.