Проведено аналіз доцільності використання гістограмного методу для дослідження інтегральної нелінійності прецизійних АЦП
1. Федорков Б.Г., Телец В.А. Микросхемы ЦАП и АЦП: функционирование, параметры, применение. – М.: Энергоатомиздат, 1990. – 320 с. 2. Земельман М.А. Автоматическая коррекция погрешностей измерительных устройств. – М.: Изд-во стандартов, 1972. – 247с. 3. Уолт Кестлер. Аналого-цифровое преобразование. – М.: Техносфера, 2007. – 1016 с. 4. AD7714: CMOS, 24-BIT Sigma-Delta, Signal Conditioning ADC. [Електронний ресурс] – Режим доступу http://www.analog. com/en/analog-to-digital-converters/ad-converters/ad7714/products/product.html. 5. Про- ненко В.И., Якирин Р.В. Метрология в промышленности. – К.: Техника, 1979. 223с. 6. Patent No 6,516,290 B1. US, H04B 15/00 Method for measuring the nonlinearity of an Analog Front End System / Yung Chow Peng; патентовласник Winbond Electronics Corp. Заявл. Aug. 20, 1999; опубл. February 4, 2003, [Електронний ресурс] – Режим доступу http://www.patentstorm.us/patents/6516290/ description. html. 7. Larsson, A.; Sonkusale, S. A background calibration scheme for pipelined ADCs including nonlinear operational amplifier gain and reference error correction. Proc. of IEEE International Systems-onChip Conference, 2004. 12–15 Sept. 2004. – P. 37–40. 8. Шлыков Г.П. Аппаратурное определение погрешностей цифровых приборов. – М.: Энергоатомиздат, 1984. 9. IEEE Std 1241-2000, IEEE Standard for Terminology and Test Methods for Analog-to-Digital Converters, The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc., New York, 2000. 10. Vladimír Haasz. Testing of High-Resolution / Middle-Speed A/D Converters and Modules – Problems and Ways of their Solving. Proc. of IEEE International Workshop on Intelligent Data Acquisition and Advanced Computing Systems: Technology and Applications 8–10 September 2003, Lviv, Ukraine. – Р. 7–12. 11. Eduri U., Maloberti F. On-line digital correction of harmonic distortion in analog-to-digital converters. Proc. of 8th IEEE International Conference on Electronics, Circuits and Systems. ICECS 2001. 2–5 Sept. 2001. – P. 837–840. – Vol.2. 12. Björsell N., Händel P. Achievable ADC Performance by Postcorrection Utilizing Dynamic Modeling of the Integral Nonlinearity // EURASIP Journal on Advances in Signal Processing, vol. 2008, Article ID 497187, 10 pages, 2008. doi:10.1155/2008/497187. 13. Suchanek P., Slepicka D., Haasz V. Several approaches to ADC transfer function approximation and their application for ADC non-linearity correction // Metrology and Measurement Systems. – 2008. – Vol. 15, No. 4. – Р. 501–511. 14. Suchanek, P. Haasz, V. Slepicka, D. ADC nonlinearity correction based on INL(n) approximations. Proc. of 5-th IEEE International Workshop on Intelligent Data Acquisition and Advanced Computing Systems: Technology and Applications (IDAACS 2009). Rende (Cosenza), Italy September 21–23, 2009. – Р. 137–140. 15. Domenico Luca Carnì, Domenico Grimaldi. State of Art on the Tests for ΣΔ ADC. [Електронний ресурс] – Режим доступу http://www.imeko.org/publications/iwadc-2007/IMEKO-IWADC-2007- F136.pdf 16. De Vito, L.; Rapuano, S.; Slepieka, D. ADC Standard Harmonization: Comparison of Test Methods – Phase II. Proc. of 2009 IEEE Instrumentation & Measurement Technology Conference. Singapore, 2009. – Р. 1490–1495