Дослідження характеристик вбудованого генератора випадкових чисел мікроконтролерів родини stm32f4xx згідно методики nist sts
Проведено тестування вбудованого генератора випадкових чисел мікроконтролерів родини STM32F4XX з ядром ARM Cortex-M4F згідно методики NIST STS при різних значеннях тактової частоти. Показано, що за результатами тестів NIST STS дані генератори задовольняють вимоги, які ставляться до генераторів випадкових чисел у криптографічних додатках.