Порівняння ефективності алгоритмів точкового сканування зі зсувом та точкового сканування з парним обміном для розміщення елементів
На основі тест-задачі Стейнберга виконано порівняльне дослідження результатів роботи алгоритму точкового сканування зі зсувом елементів та алгоритму точкового сканування з парним обміном.
Efficiency of placement algorithm for electronic devices by scanning with parewise and elements’ shifting is investigated and compared. Experiments were performed at Steinberg test-case.