Application of envelope function method for multibeam interference extremums to the ellipsometry electromagnetic waves by single-layered coatings
Вперше визначено фізичні принципи застосування обвідної функції до екстремумів спектрів багатопроменевої інтерференції в еліпсометрії відбиття світла на площину падіння хвилі на прозорі й абсорбуючі одношарові структури.