Похибка методу корекції інтегральної нелінійності АЦП за допомогою багаторезистивного подільника

Authors: 
Кочан Р.В.

Національний університет “Львівська політехніка”, кафедра спеціалізованих комп’ютерних систем

Досліджено вплив похибки опору резисторів багаторезистивного подільника та випадкової похибки АЦП на залишкову похибку корекції інтегральної нелінійності АЦП. Результати досліджень дали змоги визначити сферу доцільного застосування досліджуваного методу та сформулювати вимоги до методів визначення нелінійності функції перетворення з розширеною сферою доцільного застосування.

1. Fowler K. Part 7: analog-to-digital conversion in real-time systems. IEEE Instrumentation & Measurement Magazine. 2003. Vol. 6. Issue 3. pp. 58-64. 2. Kester W. Which ADC Architecture Is Right for Your Application? // Analog Dialogue. – 2005. – Vol. 39, № 2. р. 11–19 [Електронний ресурс] – Режим доступу http://www.analog. com/library/analogdialogue/archives/39-06/architecture.pdf. 3. 24-Bit SigmaDelta, Signal Conditioning ADC with 2 Analog Input Channels – AD7714 Data Sheets [Електронний ресурс] – Режим доступу http://www.analog.com/en/analog-to-digital-converters/ad-converters/ad77... product.html. 4. Кочан Р.В. Використання АЦП для вимірювання за методом заміщення. Український метрологічний журнал. – Харків, 2010, № 3. – С. 11–16. 5. Аналого-цифровое преобразование / Под ред. Уолта Кестера. – М.: Техносфера, 2007. – 1016 с. 6. Кочан Р.В., Кочан О.В. Спосіб визначення інтегральної нелінійності характеристики перетворення аналого-цифрових перетворювачів Вимірювальна техніка та метрологія. – Львів, №68, 2008. – С. 55–59. 7. Кочан Р. Лінеаризація характеристики перетворення аналого-цифрових перетворювачів з високою роздільною здатністю // Вісн. Вінницьк. політехн. ін-ту. – Вінниця. – 2009. – № 2. – С. 7–12.