Вимірювальна техніка та метрологія

Збірник формується за такими розділами:

  1. Опрацювання та перетворення вимірювальних сигналів;
  2. Засоби вимірювань електричних та магнітних величин;
  3. Засоби вимірювань теплових величин;
  4. Вимірювання неелектричних величин;
  5. Біомедичні вимірювання та прилади;
  6. Вимірювальні перетворювачі;
  7. Вимірювальні системи;
  8. Автоматизація експериментальних досліджень;
  9. Метрологія, якість, стандартизація та сертифікація;
  10. Інформаційно-вимірювальні технології у мехатроніці та робототехніці

    Про журнал

Журнал «Вимірювальна техніка та метрологія», заснований у Національному університеті «Львівська політехніка»,1965 р., характеризується багатою історією. Від 1991 р. з набуттям незалежності Україною виходить українською мовою. Посилення міжнародної співпраці призвело до появи в ньому статей, що друкуються англійською мовою. Водночас, розвиток нанотехнологій та робіт під егідою Європейських програм призвів до поширення міждисциплінарних досліджень, яким щонайкраще відповідав профіль журналу – міжвідомчий науково-технічний збірник. Свідченням цьому є опублікування ґрунтовної монографії «Handbook of Thermometry and Nanothermometry», автором якої є незмінний від 1982 р. Головний, а від 2018 р. Почесний, редактор журналу – завідувач кафедри Інформаційно-вимірювальних технологій, проф. Б.Стадник. З’являються роботи, де авторами виступають науковці різних країн. Цей процес посилюється з 4-ю промисловою революцією у Європі – Industry 4.0. Науковці кафедри Інформаційно-вимірювальних технологій Львівської політехніки, які формують ядро Редакційної колегії журналу, інтелектуалізують власні дослідження. Дотримуючи кроку програмі Metrology 4.0, у 2016 р. видано монографію “Cyber-Physical Systems. Metrological Issues”, 2016 (під редакцією проф. Б.Стадник та проф. С.Яцишин).

У найближчому майбутньому реалізація потенціалу Кібер-фізичних систем, що базуються постійно оновлюваних даних засобів вимірювань, може зіткнутися з проблемою потреби у фахівцях, які володіють надзвичайно широким діапазоном знань: від кібернетики і теорії систем до програмування з комп’ютерною інженерією та метрологією. А це тематика, яка охоплюється журнальними розділами. Для її кращого вивчення при кафедрі ІВТ відкриваються нові лабораторії: а) від фірми National Instruments, USA на основі графічної платформи LabVIEW, призначеної суттєво спростити формування і впровадження унікальних віртуальних та ad hoc засобів,  в тому числі вимірювання, шляхом швидкої візуалізації вибірок даних; б) від Cypress Semiconductor Corp., USA по вивченню, конструюванню і впровадженню мікроконтролерів для різних галузей науки і техніки; в) від IFM Electronic, Germany по дослідженню, програмуванню і використанню розумних сенсорів; г) від компанії SIOS, Germany – по залученню лазерних інтерферометрів для вивчення наноскопічних процесів деформації у тілах, їх вібрацій тощо.

Публікації наукових праць у цих напрямках стали основними "векторами" розвитку "Вимірювальних технологій та метрології" протягом останніх декількох років. Зрештою, це і є саме ті напрями наукових досліджень, результати яких останнім часом застосовуються в сучасних технологіях. Наприклад, тривалі дослідження та розроблення квантових стандартів у світі виявили розрив, який полягає у відсутності Квантового еталону температури – останньої неквантованої величини системи СІ. Отже, ми виконали чудову роботу і запропонували цей унікальний пристрій як основний стовп нової квантової термометрії, основи якої були опубліковані в "Measurement Technology and Metrology", № 77, 2017, сс.40-49.

Крім того, наші вчені та викладачі, які успішно змінюють свої наукові інтереси за науковим прогресом, мають можливість брати участь не тільки в передачі технології в промисловість, але й у подальших розробках технологій. Вони постійно піднімають рівень журналу за результатами проведених прикладних наукових досліджень. Ви можете засвідчити це в членстві редакційної колегії журналу, де окрім професорів Львівської  політехніки та низки навчальних  закладів України, Німеччини, Польщі  представлені видатні керівники провідних ІТ компаній світу. Зверніть увагу на наступну особливість. Окремі роботи згруповані у томах таким чином, щоб досягти головної мети кожного бюлетеня, який полягає в якомога швидшій публікації високоякісних наукових знань. Розділи нашого журналу, пов'язані з вихідними структурними рівнями Кібер-Фізичних систем, описують різні етапи отримання та подальшого опрацювання первинної інформації, необхідної для їх ефективної роботи. Саме метрологія визначає алгоритми роботи мікроконтролерів, що забезпечують точність і достовірність роботи складних систем керування різними напрямками людської діяльності.

Отже, метою нашого журналу є реалізація ефективних IT-технологій, збагачених "вимірювальною складовою", в повсякденному житті незалежно від областей (наука, промисловість, охорона здоров'я тощо). Тому спираючись на достовірні дані засобів вимірювання, в опублікованих статтях акцентується увага як на науковій новизні, так і на практичній цінності.

Редакційна колегія