1. JCPEE
  2. Всі випуски
  3. Випуск 6, Номер 1, 2016
  4. Моделі для опису деградації функціональних параметрів електричних приладів на основі розподілу Вейбула-Гнеденко

Моделі для опису деградації функціональних параметрів електричних приладів на основі розподілу Вейбула-Гнеденко

JCPEE.
2016;
Випуск 6, Номер 1
: pp.1-8
Автори:
  1. Сєргєй Боровіков
  2. Євгеній Шнейдеров
  3. Іріна Бурак
1
Білоруський державний університет інформатики та радіоелектроніки
2
Білоруський державний університет інформатики та радіоелектроніки
3
Білоруський державний університет інформатики та радіоелектроніки

Автори пропонують можливість отримання математичної моделі деградації функціонального параметру у вигляді умовної густини його розподілу для заданого часу роботи на основі 3-параметричного розподілу Вейбула-Гнеденко. Ця модель забезпечує похибку прогнозування надійності для зразків електронних приладів, яка є меншою, ніж похибки після використання моделі деградації на основі нормального розподілу функціонального параметру.

Degradation model of parameter
reliability prediction of electronic devices
semicon¬ductor devices
experiment for reliability prediction
  1. D. Coit, J. Evans, N. Vogt, J. Thomson, “A Method for Correlating Field Life Degradation with Reliability Prediction for Electronic Modules”, Quality and Reliability Engineering International, vol. 21, issue 7, pp. 715-726, 29 September 2005.
  2. S. Borovikov, Statistical Forecasting for the Rejection of Potentially Unreliable Electronic Devices. Moscow: N, 2013.
  3. S. Borovikov, A. Shalak, A. Beresnevich, A. Emelyanov, “Physical-statistical models of degradation of functional parameters of electronic devices”, Reports of The National Academy of Sciences of Belarus, vol. 51, no. 6, pp.105-109, 2007.
  4. S. Borovikov, A. Shalak, A. Beresnevich, A. Emelyanov, E. Shneiderov, “Reliability Forecasting of electronic devces on the basis of a mathematical model of degradation of functional parameter”, Reports of Belarusian State University of Informatics and Radioelectronics: electronics, materials, technology, informatics, vol. 6, pp. 3239, 2008.
  5. E.S. Ventcel, Probability Theory. Moscow: , 1969.
  6. S. Borovikov, E. Shneiderov, I. Burak, “Models based on the Weibull-Gnedenko distribution for describe the degradation of the functional parameters of electronic devices”, Reports of The National Academy of Sciences of Belarus, vol. 59, no. 3, pp.109-115, 2015.
  7. R. Vadzinky, Handbook of Probability Distri­butions. St. Petersburg: , 2001.
  8. U. Miller, Physical Bases of Integrated Circuits Reliability. Moscow: Soviet Radio, 1976.
  9. QuickLogic Reliability Report. рASIC, Vialink and QuickLogic Corp., 1998.
  10. Reliability Audit Report 1999. Life Test Data. ON Semiconductor L.L.C., Formerly a Division of Motorola, 1999.