reliability prediction of electronic devices

Моделі для опису деградації функціональних параметрів електричних приладів на основі розподілу Вейбула-Гнеденко

Автори пропонують можливість отримання математичної моделі деградації функціонального параметру у вигляді умовної густини його розподілу для заданого часу роботи на основі 3-параметричного розподілу Вейбула-Гнеденко. Ця модель забезпечує похибку прогнозування надійності для зразків електронних приладів, яка є меншою, ніж похибки після використання моделі деградації на основі нормального розподілу функціонального параметру.