До участі в конференції запрошуються студенти та аспіранти закладів вищої освіти та провідні науковці в галузі інформаційно-вимірювальних технологій та метрології

Метою конференції є науковий інформаційний обмін в галузі інформаційно-вимірювальних технологій та метрології, а також залучення талановитої молоді до науково-дослідницької роботи

Напрямки роботи конференції:

1. Теорія й практика вимірювань та випробувань.
2. Застосування інформаційно-вимірювальних технологій у промисловості.
3. Кібер-фізичні системи.
4. Стандартизація й оцінка відповідності в світлі євроінтеграції України.
5. Метрологічне забезпечення вимірювань та випробувань.
6. Забезпечення якості, кваліметрія.

Під час конференції також планується:

• проведення школи-семінару, де відбудуться виступи з доповідями провідних науковців в галузі метрології;
• зустріч членів Академії метрології України;
• нарада членів методичної комісії спеціальності 152 Метрологія та інформаційно-вимірювальна техніка.

Робочі мови конференції: українська, англійська.