Досліджено спектральні та кутові умови для просвітлення границь за допомогою подавлення імпедансного контрасту, застосовуючи метод теоретичного і комп'ютерного аналізу функції обвідних спектрів багатопроменевої інтерференції. Дослідження прово- дились у резонансній області дисперсії діелектричної проникності в одинарних та бінарних плоско паралельних структурах. Одержані аналітичні співвідношення між кутом Брюстера/псевдо-Брюстера і параметрами структури.
1. Born M, Wolf E. Principles of Optics. Moscow: Nauka 1973. 2. Macleod H.A. Thin film optical filters. Bristol: Hilger 1986. 3. Thelen À. Design of optical interference coatings. New York: McGraw-Hill 1989. 4. Furman Sh. A, Tikhonravov A. V. Basics of optics of multilayer systems. Gif-sur-Yvette: Editions Frontiers 1992. 5. Bennet J. M. Polarization. In Handbook of Optics. Sponsored by the Optical Society of America. Michael Bass, editor in chief. – 2nd ed. McGraw: Hill. Inc. 1995; p. 5.1–5.28. 6. Willey R. Practical Design and Production of Optical Thin Films. Crc.Press 2002. 7. Kaiser N, Pulker H. K. Optical Interference Coatings. Berlin: SpringerVerlag 2003. 8. Al-Dilami Ahmed A., Vrublevsky I. A, Chernyakova K. V., Pykhir G. A. Absorption of energy of electromagnetic radiation in interference in sulated structures with nanoporous alumina // Scient & Tecn PFMT 2014; 2(19): 96–9. 9. Micheli D., Apollo C., Pastore R. and et al. Electromagnetic characterization of composite materials and microwave absorbing modeling. In: Reddy B editor. Materials Science: Composite Materials. Advances in Nanocomposites – Synthesis, Characterization and Industrial Applications. ISBN 978-953-307-165-7, Published: April 19, 2011 under CC BY-NC-SA 3.0 license. 10. Linkov L. M. et al. New materials for screens of electromagnetic radiation. Doklady BGUIR 2004, 3: 152–167. 11. Baskakov A. N. et al. Resonance effects full interference absorption of wave energy in the subtle that weakly absorb layers // Letters to J of Technical Physics1976, 2(19): 891–3. 12. Kozar A. V. Distribution of electric field intensity in multilayer systems of resonant type. In: Kozar A. V., Kolesnikov W. S., Pirogov Y. A. Editors. Bulletin of Moscow state University, Physics and astronomy 1978, 9(1): 78–86. 13. Sokolovskyy I., Pokrovsky Yu. Applied radiooptics. Theory and methods the resonant angular filtering. – Kiev: Naukova Dumka, 1986. 14. Schopper H. Zur Optik dünner doppelbrechender und dichroitischer Schichten // Zeitsschrift fur Physik 1952, 132(2): 146–70. 15. Brewster D. On the laws which regulate the polarisation of light by reflexion // Philos Trans 1815, 105: 125–30. 16. Bass M editor. Handbook of Optics (2). 2nd ed. New York: McGraw-Hill 1995. 17. Kosobutsky P. S. Inversion of a nonmonotonic polarizationalangular dependence of light reflection coefficient from a thin film on an absorbing substrate // J Appl Spectr 2005; 72(2): 277–9. 18. Abeles F. Methods for determining optіcal parameters of thin films. In: Wolf E editor. Progress in Optics (2). Amsterdam: North Holland 1963; p. 429–88. 19. Martinez-Anton J. Simultaneous determination of film thickness and refractive index by interferential spectrogoniometry // Opt Commun 1966; 132(3–4): 321–8. 20. Dyankov G. Modified channeled spectrum for fast measurement of thin films // Appl Opt 2008; 47(4): 536–47. 21. Kosobutskyy P. S. Envelope method of Fabry-Perot spectra interferometry. Lviv: Lvivska Polytechnika 2013. 22. Kosoboutskyy P. S. Physics bases for modeling the electromagnetic wave processes in optics / Kosoboutskyy P. S., Karkulovska M. S., Seheda M. S. – Lviv: Lvivska Polytechnika, 2003. 23. Kosoboutskyy P. S. Extrema envelope function multibeam interference Fabry-Perot / Kosoboutskyy P. S., Karkulovska M. S. – Part I. Properties and applied aspects for plane-parallel single-layer systems // Radioelectronics & Informatics J 2012, 4:90–4. 24. Humphrey S. Direct calculation of the optical constants for a thin film using a midpoint envelope // Appl Opt 2007; 46: 4660-6.