Вплив висоти візирного променя на результати високоточного нівелювання

Автори:
1
Національний університет "Львівська політехніка"
  1. Иванова И.М. Влияние рефракции на геометрическое нивелирование з зависимости от высоты и длины визирного луча. — «Проектирование». 1970. вып. 2.
  2. Ковалев Е.С. Влияние вертикальной рефракции на точность нивелирования наклонным лучем. — «Тр. Днепропетровского института инженеров железнодорожного транспорта». 1969. вып. 95.
  3. Павлов Н.А. Рефракция в высокоточном к точном нивелировании. — «Тр. ЦНИИГАиК». 1937. вып. 23.
  4. Патова 3.Ф. Ошибки от неодинаковой освещенности реек в геометрическом нивелировании высокой точности. — «Геодезия. картография и аэрофотосъемкам. 1969. выи. 8.
  5. Патова 3.Ф. Некоторые усовершенствования в методике высокоточного нивелирования. — «Геодезия. картография и аэрофотосъемка». 1971. вып. 13.
  6. Энтин И.И. Высокоточное нивелирование. — «Тр. ЦНИИГАиК». 1956. вып. 111.
  7. Хёньи Е. Исследование возможностей уменьшения ошибок за рефракцию а нивелировании. — «Geod. es kartogr.». 1961. № 4.
  8. Стефанович И. Систематическое влияние нивелирной рефракции. Определение V и С в уравнении Куккамякн. — «L.b. Geod. inst. Univ Beogradu». 1958. № 1