Здійснено аналіз вимірювання температури методом комбінаційного розсіювання світла та проведено оцінювання метрологічних характеристик методу. Об’єктом дослідження вибрано мікроконтролер.
1. Сегеда О. Вимірювання температури з використанням явища комбінаційного розсіювання світла / Яцишин С., Сегеда О. // Технічні вісті. – 2008. – № 1– 2. – С.121–122.
2. Vaucher S., Catala-Civera J.M., Sarua A., et al., Phase selectivity of microwave heating evidenced by Raman spectroscopy // J. Appl. Phys. 2006. V.99, No.11.
3. Сегеда О. Лазерна термометрія у мікротехнологіях / Стадник Б., Яцишин С., Сегеда О. Черкаси-Гурзуф 2008 С.129-132.
4.http://www.solartii. com/rus/spectral_instruments/ms350.htm (дійсна на 28.02.2012) 5. Луцик Я.Т., Буняк Л.К., Рудавський Ю.К., Стадник Б.І. Енциклопедія термометрії. – Львів, 2003.
– С.280–285.
6. Павловский И.Ю. Спектрометр комбинационного рассеяния света для диагностики материалов in situ в газоразрядной плазме / И.Ю. Павловский, А.Н. Образцов // ПТЭ. – 1998. – № 2. – С.144–148.
7. Сегеда О. Метод комбінаційного розсіювання світла у термометруванні поверхні / О. Сегеда, Б. Стадник, С. Яцишин // Вимірювальна техніка та метрологіяю – 2010. – № 71. – С.63–66.