Розглядається запропонований метод підвищення точності вимірювання темпера- тури мікропроцесорним терморезистивним термометром, в якому завдяки використан- ню структурно-аналітичної надлишковості одержується функція вимірювального перетворення з інваріантністю щодо нелінійності статичної характеристики напів- провідникового первинного перетворювача, прогресуючого дрейфу градуювальної характеристики термометра та дії на нього різних дестабілізуючих факторів.
The proposed method to improve the accuracy of temperature measurement via microprocessor-based thermistor thermometer is viewed. Due to structural and analytical redundancy we derive the measuring conversion function invariant toward semiconductor primary converter static characteristics nonlinearity, thermometer calibration characteristics progressive drift and destabilizing factors influence.
- Измерения в промышленности: Справочник в 3-х книгах / под ред. П. Профоса: Пер. с нем. Под ред. Д.И. Агейкина. Кн. 2. Способы измерения и аппаратура. – М.: Металлургия, 1990. – 383 с.
- Дубовой Н.Д. Автоматические многофункциональные измерительные преобразователи / Н.Д. Дубовой. – М.: Радио и связь, 1989. – 256 с.
- Мурин Г.А. Теплотехнические измерения / Г.А. Мурин. – М.: Энергия, 1979. – 423 с.
- Головко Д.Б. Високоточні вимірювання багатофункціональними термосенсорами / Д.Б. Головко, В.О. Дубровний, Ю.О. Скрипник, Г.І. Хімі- чова. – К.: Либідь, 2000. – 302 с.