МЕТРОЛОГІЧНА НАДІЙНІСТЬ ТЕРМОЕЛЕКТРИЧНОГО НАНОСЕНСОРА КВАНТОВОГО ЕТАЛОНУ ТЕМПЕРАТУРИ

2018;
: pp. 20-28
1
Національний університет “Львівська політехніка”
2
Національний університет “Львівська політехніка”
3
Національний університет “Львівська політехніка”
4
Національний університет “Львівська політехніка”
5
Національний університет “Львівська політехніка”
6
Інститут процесів вимірювання та сенсорних технологій, Технічний університет, м.Ільменау, Німеччина

Можливість впровадження еталону квантової температури потребує приділення істотної уваги I-T перетворювальному елементу, як унікальному електронному пристрою, що підлягає істотним навантаженням під час роботи. Враховуючи його нанорозмірність, оскільки елемент виготовляється на основі  CNTFET конструкції шляхом її трансформування у нанорозмірний термоелектричний перетворювач (стік та витік) з надпровідним затвором, ми передбачаємо особливо жорсткі вимоги до даного елемента. Вирішення даної проблеми може бути здійснено із залученням інженерії еластичних напружень, яка раніше успішно була застосована для масштабування процесів виготовлення багатозатворних комплементарних польових транзисторів.

  1. Yatsyshyn S., Stadnyk B. (2015). Metrological Array of Cyber-Physical Systems. Part 12. Study of Quantum Unit of Temperature Sensors and Transducers: Vol. 192, Issue 9, pp.30-36.
  2. Bobalo Yu., Yatsyshyn S., Mykyychuk M., Stadnyk B. (2017). I-T Converting Element of Quantum Temperature Standard. 59rd Internationales Wissenschaftliches Kolloquium Technische Universität Ilmenau, 11–15 September, p.33.
  3. Li Ju, Shan Zhiwei, Ma Evan. (2014). Elastic Strain Engineering for Unprecendented Materials Properties, MRS Bulletin, Vol. 39, Febr., pp.108-117.
  4. Dapeng Yu, Ji Feng, James Hone. (2014). Elastically strained nanowires and atomic sheets. MRS Bulletin, Vol.39, Febr., pp.157-166.
  5. Yatsyshyn S., Stadnyk B., Kozak O. (2012). Research in Nanothermometry. Part 2. Methodical Error Problem of Contact Thermometry Sensors & Transducers:  Vol.140,  Issue 5, pp.8-14.
  6. Burg M.E., van der Veer W.E., Gruell A.G., Penner R.M. (2007). Electrodeposited Submicron Thermocouples with Microsecond Response Time, Nano Lett.: 7 (10), pp. 3208–3213, DOI: 10.1021/nl071990q.
  7. Бужинский О. И.., Самойлов С.В. (1969). Экспериментальное определение температуры на границе раздела медь–никель с помощью термо-ЭДС, Физика твердого тела: Т. 11,  № 10, c. 2881–2886.
  8. Medvid А.I. (2006). Temperature changes in thermoelectric power and the deviation from the Wiedemann-Franz law of the Fe-Ni-Ti alloy in martensitic-austenite states. Thermoelectricity: № 4, c.19-29.
  9. Hofmann H. (2009), Advanced nanomaterials, Course support, Powder Technology Laboratory, IMX, EPFL, Version 1.
  10. Bedell W., Khakifirooz A., Sadana D.K. (2014). Strain scaling for CMOS, MRS Bulletin, Vol.39, Febr., рр.131-137
  11. Стадник Б., Яцишин С.. (2017) Патент України № 115601 від 27.11.. Спосіб отримання кванта температури на основі фундаментальних сталих  речовини і створення еталону температури та пристрій для його реалізації.
  12. Stadnyk B., Yatsyshyn S., Seheda O. (2012). Research in Nanothermometry. Part 6. Metrology of Raman Thermometer with universal calibration artifacts. Sensors & Transducers: Vol.142, Issue 7, pp.1-9.
  13. Stadnyk B., Yatshyshyn S. (2010). Аccuracy and metrological reliability enhancing of thermoelectric transducers Sensors & Transducers:Vol.123, Issue.12, pp.69-75.
  14. Kolodiy Z.A (2010). Flicker-Noise of Electronic Equipment: Sources, Ways of Reduction and Application. Radioelectron. Commun. Syst.: Vol.53, Issue 8, pp.412–417.
  15. Stadnyk B., Yatshyshyn S., Lutsyk Ya., Datsiuk M. (2013). Development of Noise Measurements. Part 8. Nanometrology and Nanothermodynamics as its Scientific Basis, Sensors and Transducers: Vol.160, Issue 12, pp.25-34.