Наведено результати статистичних вимірювань електричного опору металоплівкового резистора. Статистичні вимірювання подано у вигляді N вимірювань, здійснених через однакові проміжки часу Δt протягом загального часу вимірювання T. Отримана залежність стандартного відхилення результатів вимірювання від N підтверджує результати інших досліджень: зі зростанням N – зі збільшенням часу вимірювання T – дисперсія результатів вимірювання перестає зменшуватись. Сформульовано гіпотезу про вплив нерівноважного стану об’єкта досліджень на дисперсію результатів вимірювання. Запропоновано як один зі способів виявлення нерівноважного стану об’єкта досліджень аналіз енергетичного спектра флуктуацій його параметрів. Енергетичний спектр результатів вимірювань є нерівномірним і подібним до флікер-шуму, відтак досліджуваний об’єкт не у рівноважному стані, що може вплинути на дисперсію результатів.
[1] И. Горбань, “Оценка статистически непредсказуемых изменений физических величин на больших интервалах наблюдения”, Журнал технической физики, т. 88, вып. 12, с. 1779–1786, 2018.
[2] И. Горбань, Феномен статистической устойчивости, Київ, Україна: Наукова думка, 2014.
[3] I. Gorban, The statistical stability phenomenon, Springer , 2017.
[4] И. Горбань, Случайность и гиперслучайность, Київ, Україна: Наукова думка, 2016.
[5] I. Gorban, Ramdomness and hyper-randomness, Springer , 2 0 18 .
[6] В. Еськов, Т. Гавриленко, В. Еськов и др., “Феномен статистической неустойчивости систем третьего типа-complexity”, Журнал технической физики, т. 87, вып. 11, с. 1609–1614, 2017.
[7] И. Горбань, “Феномен статистической устойчивости”, Журнал технической физики, т. 59, вып. 3, с. 22−30, 2014.
[8] H. Nyquist, “Thermal agitation of electric charge in conductors”, Phys. Rev., vol. 32, no.1, p. 110–113, 1928.
[9] Z. Kolodiy, B. Stadnyk, S. Yatsyshyn, “Development of Noise Measurements. Part 2. Random Error”, Sensors & Transducers, vol. 151, iss. 4, pp. 107–112, 2013.
[10] Z. Kolodiy, S. Yatsyshyn, “Entropy of Measurements of Electric and Non-electric Systems Fluctuating Parameters”, Journ. Electr. Res. & Appl., vol. 2, iss. 3, рp. 26–30, 2018.