Основні деформації кантелівера механічного типу

2011;
: pp. 105 – 111
Автори: 
Дупак Б.

Національний університет «Львівська політехніка»,
кафедра систем автоматизованого проектування

This paper is considered the main deformation of cantilever of mechanical type action under the vertical, longitudinal and lateral forces.

1. Weaver J. M. R., Abraham D. W. High resolution atomic force microscopy potentiometry, J. Vac. Sci., Technol. B 9, 2004. 2. Bhushan B. Springer Handbook of Nanotechnology, apr. 2007. 3. Albrecht T. R., Akamine S., Carver T. E., Quate C. F. Microfabrication of cantilever styli for the force microscope, J. Vac. Sci. Technol., 2006. 4. Linnemann R., Gotszalk T., Rangelow I. W., Dumania P., Oesterschulze E., Atomic force microscopy and lateral force microscopy using piezoresistive cantilevers, 2000.