ДОСЛІДЖЕННЯ ВПЛИВУ ОБЧИСЛЮВАЛЬНИХ КОМПОНЕНТІВ НА ПОХИБКИ РЕЗУЛЬТАТІВ ВИМІРЮВАНЬ

2018;
: pp. 12-16
1
Державне підприємство “Науково-дослідний інститут метрології вимірювальних і управляючих систем”, м. Львів

У статті наведено результати досліджень поведінки функцій перетворення похибок вхідних даних для різних  типів  обчислювальних  компонентів  вимірювальних  систем  з  метою  використання  їх  узагальнених  моделей, розроблених  на  основі  теорії  кінцевих  автоматів.   Показано,  що  залежно  від  виду  і  значення  функції  перетворення похибок  вхідних  даних (метрологічного  стану  обчислювальних  компонентів),  похибки  результатів  вимірювань вимірювальними каналами  систем мають детермінований характер  змін  як  e  статичному,  так  і  в динамічному режимах функціонування  обчислювальних  каналів.  Визначено  основні  залежності  похибок  результатів  вимірювань  від  похибок вхідних даних і від типів функцій перетворення вхідних даних, наведено результати їх розрахунку.

[1] О. Кричевець, “Дослідження функцій перетворення обчислювальних  каналів  вимірювальних  систем”,  Тези доповідей  УІ  Міжнародної  науково-технічної  конференції “Метрологія,  інформаційно-вимірювальні  технології  та системи”, Харків, с. 82, 2017.

[2] S. Yatsyshyn, B. Stadnyk  “Metrological Array of Cyber-Physical  Systems”,  Part  12,  Study  of Quantum Unit  of  Temperature Sensors and Transducers: no. 192, Issue 9, 2016, pp. 30–36.

[3] М. Микийчук,  Б.  Стадник,  C.  Яцишин,  Я.  Луцик, “Розумні  вимірювальні  засоби  для  кібер-фізичних  систем”, Вимірювальна техніка і метрологія, т. 77,  с. 3–16, 2016.   

[4] S.Yatsyshyn, B. Stadnyk, Ya. Lutsyk, O. Basalkevych, “Research  in  Nanothermometry.  Part  8.  Summary”,  Sensors  & Transducers, vol. 144, is. 9, p.1–15, 2012.

[5] Б. Стадник, С. Яцишин, М. Микийчук, Я. Луцик, П. Скоропад, Т. Фрьоліх, “Метрологічна  надійність  термоелектричного  наносенсора  квантового  еталона  температури”, Вимірювальна техніка і метрологія, т. 79(2),  с. 0–28, 2018.