1. JCPEE
  2. Всі випуски
  3. Випуск 7, Номер 2, 2017
  4. Тестування цифрових схем за допомогою циклічних кодів

Тестування цифрових схем за допомогою циклічних кодів

JCPEE.
2017;
Випуск 7, Номер 2
: с.78-82
Автори:
  1. Василь Семеренко
  2. Олександр Роїк
1
Вінницький національний технічний університет
2
Вінницький національний технічний університет

Розглядається застосування теорії завадостійкого кодування до завдань технічної діагностики. Відомі методи тестового контролю на основі сигнатурного аналізу дозволяють встановлювати тільки факт наявності або відсутності помилок в ЦУ. Мета дослідження полягає в забезпеченні можливості точної локалізації помилки в логічних підсхемах всередині ЦУ який перевіряється. У пропонованому методі повний тест Т для перевірки ЦУ, який формується кодером циклічного коду Хеммінга, підрозділяється на вхідний тест T1 (подається на входи ЦУ) і тест T2 еталонних вихідних значень (записується в блок пам'яті). Тест T1 інтерпретується як безліч інформаційних слів циклічного коду, а тест T2 - як безліч перевіряючих слів циклічного коду. Декодер спільно декодує тест T1 і T2 і шукає помилки тільки в тесті T1. В результаті виправляються щільні пакети помилок в інформаційних словах перешкодостійкого коду, що еквівалентно точної локалізації помилок усередині ЦУ.

faults diagnosis
error correcting coding
циклічні коди
burst errors
test
  1. E. Dubrova, Fault Tolerant Design: an Introduction. Boston, USA: Kluwer Academic Publishers, 2008.
  2. C. Shannon, A mathematical theory of commu­nication. Bell Syst. Tech. J., vol. 27, pp. 379–423, 623–656, 1948.
  3. M. Gavrilov, “Structural redundancy and functional reliability of switching units”, in Proc. First World Congress IFAC, vol. 3, Moscow, USSR: Academy of Science, 1960. (Russian).
  4. L.-T. Wang, C.-W. Wu, and X. Wen, VLSI Test Principles and Architectures Design for Testability. New York, London: Morgan Kaufmann Publishers, 2006.
  5. A. Babitha and S. Divya. “Modified Hamming Codes with Double Adjacent Error Correction along with Enhanced Adjacent Error Detection”, International Journal of Innovative Research in Computer and Communication Engineering, vol. 3, issue 8, pp.7706-7713, Aug. 2015.
  6. E. Fujiwara, Code Design for Dependable Systems.Theory and Practical Applications. USA: John Willy & Sons, Inc., 2006.
  7. V. Semerenko, “Burst-Error  Correction for  Cyclic Codes”, in Proc. Int. IEEE Conference EUROCON-2009, S. Petersburg, Russia: May 2009, pp. 1646–1651. ​
    DOI: 10.1109/eurcon.2009.5167864
  8. X. Tang and S. Wang, “A Low Hardware Overhead Self-Diagnosis Technique Using Reed-Solomon Codes for Self-Repairing Chips”, IEEE Transactions on Computers, vol. 59, no. 10, pp. 1309 –1319, October 2010.
  9. V. Semerenko, “Parallel Decoding of Bose-Chaud­huri-Hocquenghem Codes”, Engineering Simulation, vol. 16, no. 1, pp. 87-100, Jan.1998.
  10. V. Semerenko, “Estimation of the correcting capability of cyclic codes based on their automation models”, Eastern-European Journal of Enterprise Technologies, no. 2/9 (74), pp. 16–24, 2015. (Russian).
  11. A. Neale and M. Sachdev, “A New SEC-DED Error Correction Code Subclass for Adjacent MBU Tolerance in Embedded Memory”, IEEE Trans­actions on Device and Materials Reliability, vol. 13, no. 1, pp. 223, 230, March 2013.