Досліджено вплив зміни алгоритмів у задачах оптимізації розміщення елементів електронних схем для виходу з локальних екстремумів. Продемонстровано застосування стратегії ітераційної зміни алгоритму точкового сканування зі зсувом елементів та алгоритму з їх парним обміном. Експерименти виконано на тест-задачі Стейнберга. Показано, що така зміна дає змогу покращити результати оптимізації розміщення.
The effect of changing algorithms to escape from local extrema for electronic circuit placement optimization is investigated. To iterative change two algorithms were used: scanning point with exchange of elements’ position and with elements’ shifting. Experiments were performed on the Steinberg test-case. Is shown that such change can improve the optimization results.
- Базилевич Р.П. Декомпозиционные и топологические методы автоматизированного конструирования электронных устройств. – Львов: Вища школа, 1981. – 168 с.
- Селютин В.А. Машинное конструирование электронных устройств. – М.: Сов. радио, 1977. – 383 с.
- Базилевич Р.П., Щербюк И.Ф. Алгоритмические и программные средства для размещения разногабаритных элементов на конструктиве // Автоматизация проектирования дискретных систем (НАН Республики Беларусь). – Минск: Беларусь, 2007. – № 6. – С. 157–164.
- Базилевич Р.П., Курейчик В.М., Щерб’юк І.Ф. Порівняння ефективності алгоритмів точкового сканування зі зсувом та точкового сканування з парним обміном для розміщення елементів // Комп’ютерні науки та інформаційні технології. – 2010. – № 686.