Volume 86, no.4, 2025
In this Number
(14 papers)
DOI: https://doi.org/10.23939/istcmtm2025.04.014
14-19
DOI: https://doi.org/10.23939/istcmtm2025.04.020
20-25
ANALYSIS OF THE STABILITY OF A CMOS TEMPERATURE SENSOR UNDER TEMPERATURE AND POWER-SUPPLY VARIATIONS
DOI: https://doi.org/10.23939/istcmtm2025.04.026
26-32
DOI: https://doi.org/10.23939/istcmtm2025.04.033
33-38
DOI: https://doi.org/10.23939/istcmtm2025.04.039
39-44
DOI: https://doi.org/10.23939/istcmtm2025.04.045
45-51
DOI: https://doi.org/10.23939/istcmtm2025.04.052
52-57
DOI: https://doi.org/10.23939/istcmtm2025.04.058
58-63
DOI: https://doi.org/10.23939/istcmtm2025.04.064
64-73
DOI: https://doi.org/10.23939/istcmtm2025.04.074
74-77
DOI: https://doi.org/10.23939/istcmtm2025.04.078
78-83