Perspectives of Method Atomic Force Microscopy for Research and State Physical and Mechanical Characteristics Precision Machinery Surface Products

1
Черкаський державний технологічний університет
2
Черкаський державний технологічний університет
3
Національний технічний університет України «Київський політехнічний інститут»

This paper is the well-proven expediency of the use of method of atomic-force microscopy is at research of the state and superficial descriptions of surfaces of wares of precision engineer. Basic directions of researches of topogram, physics and mechanics descriptions of surfaces of wares of precision engineer and set limitations and defects are considered in using of its method for research of separate properties of surfaces of wares.

1. Суслов А.А. Сканирующая зондовая микроскопия / А.А.Суслов, С.А.Чижик // Материалы, технологии, инструменты, 1997, № 3. — С. 78. 2. Чижик С.А. Глаза и руки нанотехнологий / С.А.Чижик, А.П.Свириденок, А.А.Суслов // Наука и инновации. — 2009. — № 3. — С. 53-55. 3. Методи та засоби мікроскопії [Текст]: моногр. / В.С.Антонюк, Г.С.Тимчик, Ю.Ю.Бондаренко та ін. — К.: НТУУ «КПІ», 2013. — 336 с. 4. Формирование упорядоченных наноструктур на поверхностях кремниевых зондов для атомно-силовой микроскопии комбинированным термовакуумным методом / С.А.Шелестовская, М.А.Бондаренко, А.В.Котляр [и др.] // Материалы докладов IX Международной конференции «Методологические аспекты сканирующей зондовой микроскопии», 12-15 октября 2010 г., Минск: Институт тепло- и массообмена им.А.В.Лыкова НАН Беларуси, 2010. — С.162-168.