Проведено порівняльний аналіз алгоритмів визначення та розпізнавання лінії лазер- ного випромінювання, описано принцип дії, негативні і позитивні сторони кожного методу, а також показано можливості їхнього застосування для пристроїв 3D-сканування. Тесту- вання алгоритмів проведено на експериментальній установці з використанням засобів С++ і бібліотеки OpenCV. Показано, що залежно від розмірів зображення та деталізації вхідного зображення слід рекомендувати той чи інший алгоритм
1. Gonzalez R. C. Digital Image Processing / Gonzalez R. C. & Woods R. E. – New York: Addison Wesley, 1992. 2. Sonka M. Image Processing Analysis and Machine Vision / Sonka M., Hlavac V., Boyle R. – Ch. 6. – Second ed. International Thomson Computer Press, 1999. 3. Vernon D. Machine Vision / D. Vernon. – Ch. 5 – Prentice-Hall, 1991. 4. Vosselman G. Airborne and Terrestrial Laser Scanning / Vosselman G., Maas H-G. – Dunbeath: Whittles Publ., 2010. 5. Franca J. A 3d scanning system based on laser triangulation and variable field of view / Franca J., Gazziro M., Ide A., Saito J. // IEEE International Conference on Image Processing, ICIP 2005. – Vol. 1, P. 425–428. 6. Cao F. Extracting meaningful curves from images / Cao F., Musé P., Sur F. // J. Math. Imaging Vis. 22(2), 2005. – P. 159–181. 7. Lee Y.-S. A straight line detection using principal component analysis / Lee Y.-S., Koo H.-S. and Jeong C.-S. // Pattern Recognition Letters 27(14), 2006. 8. Neter J. Applied Linear Statistical Models / Neter J., Kutner M. H., Nachtsheim C. J. and Wasserman W. – 4th Ed. – Boston: McGraw Hill, 1996. 9. Casella G. Statistical Inference // G. Casella and R. Berger. – 2nd edition. – Pacific Grove:Duxbury Advanced Series, 2002. 10. Moore D. Introduction to the Practice of Statistics / D. Moore and G. McCabe // W. H. Freeman and Co. – London, 2003. 11. Bradski G. Learning OpenCV: Computer Vision with the OpenCV Library / Bradski G., Kaehler A. – Cambridge: O’Reilly, 2008. 12. Canny J. F. A computational approach to edge detection / Canny J. F. // IEEE Trans. Pattern Anal. Mach. Intell. – 1986. – 8 (6). – P. 679–698.