В роботі експериментально визначено вплив поверхнево-активних речовин (ПАР) різного типу на процеси сумісного електрохімічного осадження композиційного порошку мідь-вуглець (графіт, вуглецеві нанотрубки (ВНТ)). Показано, що введення ПАР CTAB зменшує розмір частинок порошку та покращує їх корозійну стійкість. Максимальний ефект одержано при введенні до електроліту ПАР катіонної дії - CTAB з одночасним обробленням ультразвуком для диспергування ВНТ.
- Pavlenko V., Yas D.: J. Powder Metall. Met. Ceram., 1976, 15, 89. https://doi.org/10.1007/BF00793555
- Uk P-H., Chung T-J., Lee H.: J. Ceram. Process. Res., 2017, 18, 440.
- Chu Y., Yu G., Hu B. et al.: Adv. Powder Technol., 2014, 25, 477. https://doi.org/10.1016/j.apt.2013.07.003
- Chen L., Yu G., Chu Y. et al.: Adv. Powder Technol., 2013, 24, 281. https://doi.org/10.1016/j.apt.2012.07.003
- Ajayan P., Schadler L., Braun P. (Eds.): Nanocomposite Science and Technology. Wiley-VCH Verlag GmbH, Weinheim 2003. https://doi.org/10.1002/3527602127
- Toth G., Maklin J., Halonen N. et al.: Adv. Mater., 2009, 21, 2054. https://doi.org/10.1002/adma.200802200
- Berber S., Kwon Y., Tomanek D.: Phys. Rev. Lett., 2000, 84, 4613. https://doi.org/10.1103/PhysRevLett.84.4613
- Jayathilaka W., Chinnappan A., Ramakrishna S.: J. Mater. Chem., 2017, C5, 9209. https://doi.org/10.1039/C7TC02965A
- Jiang L., Gao L., Sun J.: J. Colloid Interf. Sci., 2003, 260, 89. https://doi.org/10.1016/S0021-9797(02)00176-5
- Moore V., Strano M., Haroz E. et al.: Nano Leters, 2003, 3, 1379. https://doi.org/10.1021/nl034524j
- Rastogi R., Kaushal R., Tripathi S. et al.: J. Colloid Interf. Sci., 2008, 328, 421. https://doi.org/10.1016/j.jcis.2008.09.015
- Strano M., Moore V., Miller M. et al.: J. Nanosci. Nanotechnol., 2003, 3, 81. https://doi.org/10.1166/jnn.2003.194
- Vaisman L., Wagner H., Marom G.: Adv. Colloid Interf. Sci., 2006, 128-130, 37. https://doi.org/10.1016/j.cis.2006.11.007
- Schneider M., Weiser M., Dorfler S. et al.: Surg. Eng., 2012, 28, 34. https://doi.org/10.1179/1743294411Y.0000000095
- Arai S., Saito T., Endo M.: J. Electrochem. Soc., 2010, 157, D147. https://doi.org/10.1149/1.3280034
- Arai S., Suwa Y., Endo M.: J. Electrochem. Soc., 2011, 158, D49. https://doi.org/10.1149/1.3518414
- Ning D., Zhang A., Wu H.: Materials (Basel), 2019, 12, E392. https://doi.org/10.3390/ma12030392
- An Z., Toda M., Ono T.: 2016 IEEE 29th Int. Conf. on Micro Electro Mechanical Systems (MEMS). 24-28 Jan. 2016, Shanghai, China. https://doi.org/10.1109/MEMSYS.2016.7421678
- Guo H., Zhu H., Lin H., Zhang J.: Colloid Polym. Sci., 2008, 286, 587. https://doi.org/10.1007/ s00396-007-1828-0
- Zheng L., Sun J., Chen Q.: Micro Nano Lett., 2017,12, 722. https://doi.org/10.1049/mnl.2017.0317
- Arai S., Endo M.: Electrochem. Commun., 2003, 5, 797. https://doi.org/10.1016/j.elecom.2003.08.002
- Tihomirov V.: Peny. Teoriya i Praktika ih Polucheniya i Razrusheniya. Khimia, Moskva 1983.